BT San Technology
Beyond Tomorrow
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痛点
Tier-1 客户要求按单件追溯（serial）
微米级公差——手工量具跟不上
多品牌设备——需要把数据归一
OEE 低于目标，但说不清损失在哪
应用场景
视觉在送往下一工位前确认零件是否齐备
激光位移 + 视觉组合，微米级公差量测
捕捉规则视觉漏检的划痕、凹痕
开始合作
7 个工作日内免费现场考察。我们将评估改进点并提供符合预算的方案。